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集成电路可测试性的设计与实现

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摘要

集成电路在现代生活中占有极其重要的地位,可测试性是集成电路发展过程中十分重要的一个方面。本文从集成电路测试的作用和特点出发,分析了集成电路可测试性的设计方法以及实现过程,所得结果可以作为相关方面的参考。

著录项

来源
《电子技术与软件工程》 |2016年第6期|P.136-136|共1页
作者
马华泽;
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作者单位

吉林大学,吉林省长春市130000;

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正文语种 CHI
中图分类测试和检验;
关键词
集成电路; 可测试性; 测试; 设计;

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