一种实现光耦电参数测试的方法研究

蔡建荣; 邱忠文; 吴兆希

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一种实现光耦电参数测试的方法研究

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本文介绍了用一种用AD5522微处理芯片设计的光耦集成测试系统,同时根据光耦电参数的特点,结合外围电路,讲解了光耦多种电参数测试的实现方法,用以快速、准确判别光耦电性能。通过加压测压和加流测压方法的实现,另外通过GBIP接口进行外挂测试仪表（如程控示波器、程控数字表）的控制,弥补测试系统测试资源和测量精度不足的缺陷。通过编写相应的测试程序指令,实现光耦测试条件的自动加载,同时对多个参数测试结果采样、记录、并自动生成测试数据库表格,从而可快速完成光耦全参数的测试,提高检测效率。

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来源
《电子技术与软件工程》 |2016年第14期|P.122-125|共4页
作者
蔡建荣; 邱忠文; 吴兆希;
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作者单位

中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆市400060;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类 TP311.13;
关键词
光耦自动加载 GPIB接口测量精度;

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