基于TDC的高精度微电容测量系统设计

黄峰; 刘敬彪; 于海滨; 潘勉

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基于TDC的高精度微电容测量系统设计

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提出一种基于PcapolAD的微小电容测量电路设计，可对0-100pF之间的微小电容进行高精度测量。该设计基于TDC（时间数字转挟）原理，系统硬件主要由STM32F101C8T6单片机和Pcap01微电容测量芯片两部分组成。系统软件包括下位机软件和上位机软件，下位机主要完成对电容测量数据的读取以及发送至上位机，上位机则对数据作进一步处理和显示。实验证明，该系统的测量精度非常高，在以22pF为基础电容时，其测量最小误差率仅为9．8x10-7％。

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来源
《电子技术与软件工程》 |2015年第17期|P.91-92|共2页
作者
黄峰; 刘敬彪; 于海滨; 潘勉;
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作者单位

杭州电子科技大学电子信息学院浙江省,杭州市310018;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类 TP212;
关键词
TDC 高斯分布微电容测量 PcapOIAD;

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