首页> 中文期刊> 《电子测试》 >T/R组件移相置位时间测试方法及实现

T/R组件移相置位时间测试方法及实现

         

摘要

本文结合某型T/R组件移相置位时间的测试需求,从测试系统搭建和开关网络定制两方面阐述了相应测试方法,主要涉及相位跳变的转换产生及捕捉.实践证明方法可行有效,可以在T/R组件及微波部件测试系统中进行推广应用.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号