一种用于CPLD接擦写寿命验证的设计

顾小明; 肖培磊; 唐勇

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一种用于CPLD接擦写寿命验证的设计

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近年来,国防等应用领域对电子元器件提出了国产化要求,自主设计的高性能复杂可编程逻辑器件(CPLD)应运而生。这些CPLD需要按照一定的标准流程进行筛选、考核,其中擦写寿命是一项重要的考核指标。阐述了采用集成开发环境及自动化测试机台对CPLD擦写寿命进行验证的不足之处,提出了一种CPLD擦写寿命验证装置的设计,经过实际检验,设计的装置稳定可靠,满足大批量器件的验证需求,提高了CPLD擦写寿命验证的效率。

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来源
《电子与封装》 |2023年第9期|11-16|共6页
作者
顾小明; 肖培磊; 唐勇;
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作者单位

中国电子科技集团公司第五十八研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类可靠性及例行试验;
关键词
JTAG接口; 配置码格式; 多工位; 并行工作;

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