一种嵌入式NOR Flash控制器IP的设计

解同同; 李天阳

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当前,嵌入式Flash广泛应用于嵌入式系统领域,便于系统进行软件在线更新和系统维护.嵌入式NOR Flash可以“嵌入”在芯片中作为高速缓存,对于提升芯片整体性能作用明显.传统的嵌入式NOR Flash不具备测试接口,在芯片出现工作异常时不便于对整个芯片进行故障诊断.设计并实现了一种具有片上可测试功能的嵌入式NOR Flash控制器IP.控制器主要分为控制模块与测试模块两个部分,分别对两个模块进行分析设计.经过仿真验证,控制器可以实现对NOR Flash的正常操作与片外测试功能,达到了设计目标.

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来源
《电子与封装》 |2016年第7期|18-21|共4页
作者
解同同; 李天阳;
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作者单位

江南大学物联网工程学院,江苏无锡214122;

中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035;

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正文语种 chi
中图分类设计;
关键词
NOR Flash; IP核; 存储器控制器; 可测试性;

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