FPGA电路动态老化技术研究

郁振华; 朱卫良

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近年来,随着FPGA电路在军工和航天领域的广泛应用,用户对FPGA电路的可靠性要求也越来越高.在集成电路的可靠性评估试验中,动态老化试验是最重要的试验之一,FPGA动态老化技术的实现可以提高FPGA电路的可靠性.文章通过研究FPGA电路内部结构和功能模块,讨论FPGA电路加载配置过程的原理和流程,通过对动态老化和静态老化的对比试验和结果分析,研究出FPGA电路动态老化试验方法,并在工程实践中得到了成功实现和应用.

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来源
《电子与封装》 |2010年第7期|24-27|共4页
作者
郁振华; 朱卫良;
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作者单位

中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏,无锡,214035;

中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏,无锡,214035;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类可靠性及例行试验;
关键词
可靠性; 动态老化; FPGA; 配置;

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