IC内置熔丝熔断方法

陆强; 孙明

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集成电路的发展对电路的精准度和可编程性提出了更高的要求.低成本、高灵活性的熔丝结构由此得到了大范围的应用.熔丝可调节方案随着熔丝数目的增加而呈指数倍数增加.在编写测试软件时,传统方法是机械地用if...else语句来编程,程序将是非常的冗长且可读性差.文章在总结传统测试方法弊端的基础之上提出了一种可用于准确、有效地熔断IC内置熔丝的新方法.通过寻找实际测量结果和对应熔断熔丝之间的规律,将数量级为2n的熔丝熔断分析缩减至n次熔丝熔断分析.这种做法使程序简洁而又逻辑性强.

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来源
《电子与封装》 |2008年第7期|26-30|共5页
作者
陆强; 孙明;
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作者单位

无锡华润矽科微电子有限公司,无锡,214061;

无锡华润矽科微电子有限公司,无锡,214061;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类设计;
关键词
测试程序; 熔丝熔断; 可编程逻辑电路;

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