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基于JTAG的SoC芯片调试系统设计

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摘要

文章提出了一种基TIEEE 1149.1JTAG协议的SoC调试接口,该设计支持寄存器查看和设置、CPU调试、IP核调试、边界扫描测试等功能.对该接口的整体结构框图到设计都进行了详细的阐述.该接口成功地应用于测控SoC中,具有很好的参考价值.

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来源
《电子与封装》 |2007年第7期|24-2748|共5页
作者
虞致国; 魏敬和;
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作者单位

中国电子科技集团公司第58研究所,江苏,无锡,214035;

中国电子科技集团公司第58研究所,江苏,无锡,214035;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TN337;
关键词
系统芯片; JTAG; 调试接口; 扫描链;

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