测量系统R＆R分析评述

著录项

• 来源
  《电子与封装》 |2005年第10期|21-23|共3页
• 作者

  彭力; 刘志弘;

  展开▼
• 作者单位

  中国电子科技集团公司第58研究所,江苏,无锡,214035;

  清华大学微电子学研究所,北京,100084;

  展开▼
• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 测试和检验;
• 关键词

  测量系统; 重复性; 再现性; 评述;