集成电路测试中测试Map的'重生'技术

张亚军; 陆坚

首页> 中文期刊> 《电子与封装》 >集成电路测试中测试Map的'重生'技术

集成电路测试中测试Map的'重生'技术

开具论文收录证明 >>

期刊封面封底目录下载 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

晶圆测试每完成一片晶圆都会生成一张测试Map,在晶圆没有进行研磨、划片、挑粒和键合等封装工序之前,这张测试Map就是这片晶圆的"身份证"."身份证"办理通常分为首次"申领"和"补办"等,首次"申领"适用于晶圆常规测试流程,"补办"适用于二次及以上处理,其场景包括但不限于测试数据存在但测试Map丢失、客户提供电子Map要求测试但非探针台接受格式等情况.测试Map补办"身份证"的需求促使测试Map的"重生"技术应运而生.以TSK系列探针台为例,介绍了测试Map"重生"的技术流程,为这一特殊生产流程的进一步研究提供参考.

著录项

来源
《电子与封装》 |2021年第6期|21-25|共5页
作者
张亚军; 陆坚;
展开▼
作者单位

中科芯集成电路有限公司江苏无锡 214072;

中科芯集成电路有限公司江苏无锡 214072;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
晶圆测试; 测试Map; 重生;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 边界扫描测试技术在集成电路测试中的应用 [J] . 耿爽 ,宋金杨 ,郜月兰 . 沈阳航空航天大学学报 . 2007,第002期
2. 中国电子技术标准化研究所与惠瑞捷半导体科技合作测试验证高端集成电路“CESI-Verigy集成电路测试验证实验室”在北京正式成立 [J] . . 电子测量与仪器学报 . 2007,第4期
3. 混合集成电路测试硬件电路测试板的设计研究 [J] . 闫文莉 . 电子世界 . 2016,第012期
4. 加强协作,促进创新快出成果——北京自动测试技术研究所与中国科学院微电子研究所共同成立的"北京集成电路测试技术联合实验室"正式启动 [J] . 为民 . 中国集成电路 . 2010,第001期
5. 虚拟仪器技术在混合集成电路测试中的应用 [J] . 柴海峰 ,皮志松 . 计算机与数字工程 . 2010,第009期
6. 基于MAP方案的数字集成电路测试量值的溯源技术 [C] . 陈大为 ,吴京燕 . 2000年计量测试学术交流会 . 2000
7. 混合集成电路测试硬件电路测试板的设计 [A] . 汪天伟 . 2013

集成电路测试中测试Map的'重生'技术

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅