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张玲玲; 郭凤丽; 石磊;
中科芯集成电路有限公司 江苏无锡214072;
PMOS; 厚栅氧; 阈值电压;
机译:厚栅极氧化物对pMOS剂量计在室温下的伽玛射线辐照和后辐照以及升高的温度响应
机译:厚栅极氧化物的pMOS剂量计在室温和高温响应下的伽马射线辐照和后辐照
机译:采用全栅后工艺的新型多沉积多退火技术制造的PMOS应力诱导的漏电流特性
机译:V fb inf>滚降机理与高功函数金属栅和低温氧结合实现PMOS带边功函数
机译:浮栅注入剂量的表征及其对PMOS电可擦单元(PEEC)存储器阵列的影响。
机译:栅堆叠结构和工艺缺陷对32 nm工艺节点PMOSFET中NBTI可靠性的高k介电依赖性的影响
机译:使用厚的碘化汞探测器进行γ射线光谱分析
机译:用于具有厚栅氧化层的通用CMOS技术的基于多时间可编程(MTP)PMOS浮栅的非易失性存储器件
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