一种基于扩展汉明码的动态纠错机制

陈天培; 吴校生; 强小燕

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一种基于扩展汉明码的动态纠错机制

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错误纠正码(Error Correction Code,ECC)是解决存储器数据出现一位或两位错误的有效手段,然而过于复杂的编码方式将降低读写性能。为解决该问题,提出了一种基于扩展汉明码的动态纠错机制。利用扩展汉明码的奇偶校验位对检错模块进行了优化,能够监测错误发生的频率,并可动态切换进行扩展汉明码校验与奇偶校验。运用Verilog硬件描述语言实现了该机制并进行了仿真分析。分析结果表明,使用该机制与使用扩展汉明码校验相比,能够有效降低路径延时与动态功耗。

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来源
《电子与封装》 |2022年第5期|63-67|共5页
作者
陈天培; 吴校生; 强小燕;
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作者单位

上海交通大学微米/纳米加工技术国家级重点实验室;

中科芯集成电路有限公司;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类设计;
关键词
错误纠正码; 动态纠错机制; 扩展汉明码; 路径延时; 动态功耗;

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