首页> 中文期刊> 《电子世界》 >一种基于静态形式验证的I/O复用电路高效验证方法

一种基于静态形式验证的I/O复用电路高效验证方法

         

摘要

cqvip:随着系统级芯片(System on Chip,SoC)中输入/输出(I/O)接口数量和复用功能的不断增加,I/O复用电路的验证变得越来越复杂,并且需要耗费大量时间。本文针对I/O复用电路的特点,提出一种基于静态形式验证的高效验证方法,在验证早期对I/O复用进行了复用功能验证和连接性验证,同时也进行了翻转覆盖率收集。与传统基于动态验证的方法相比,本方法可以将验证时间缩短一半以上,显著提升了设计质量和开发效率。

著录项

  • 来源
    《电子世界》 |2021年第3期|91-94|共4页
  • 作者单位

    北京智芯微电子科技有限公司;

    北京智芯微电子科技有限公司;

    北京智芯微电子科技有限公司;

    北京智芯微电子科技有限公司;

    北京智芯微电子科技有限公司;

    北京智芯微电子科技有限公司;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号