手持式X射线荧光光谱仪在高压隔离开关触头镀银层腐蚀故障分析中的应用

王志高; 林涛; 伍科; 耿植; 刘继午; 兰新生; 肖茂

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手持式X射线荧光光谱仪在高压隔离开关触头镀银层腐蚀故障分析中的应用

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cqvip:针对一起110 kV隔离开关触头的腐蚀故障,采用手持式X射线荧光光谱仪分析故障隔离开关触头镀层的化学成分,发现厂家使用银氧化锡(Ag-SnO2)镀层代替镀银层。分析认为在工业含硫大气环境中,Ag-SnO2镀层中的银被SO2、H2S等硫化物腐蚀,铜基体在潮湿环境下腐蚀生成Cu2(OH)2CO3,从而导致隔离开关触头导电回路的接触电阻升高,引发过热故障。针对此次故障,提出了解决措施和建议。

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来源
《电镀与涂饰》 |2019年第23期|1311-1314|共4页
作者
王志高; 林涛; 伍科; 耿植; 刘继午; 兰新生; 肖茂;
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作者单位

国网四川省电力公司电力科学研究院四川成都 610041;

国网四川省电力公司泸州供电公司四川泸州 646000;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TQ153.16;
关键词
隔离开关触头; 腐蚀; 电刷镀银; 银氧化锡镀层; 手持式X射线荧光光谱仪;

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