TD-LTE发射机杂散辐射的测试方法与实现

巩峰; 钱光弟

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杂散辐射是衡量基站性能的重要指标之一.文中用安捷伦科技公司最新发布的低档频谱分析仪CXA N9000A来测试TD-LTE基站发射机共站杂散辐射,采取外接低噪声放大器和带阻滤波器的方法,解决了测试过程中频谱仪灵敏度及动态范围不够的问题,降低了测试对仪器的要求和测试成本,实现了对-100dBm左右的共站杂散信号的准确测试.

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来源
《实验科学与技术》 |2011年第2期|7-936|共4页
作者
巩峰; 钱光弟;
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作者单位

电子科技大学自动化学院,成都,610054;

电子科技大学自动化学院,成都,610054;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TN98;
关键词
杂散辐射; TD-LTE发射机; 共站;

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