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吴正龙;
北京师范大学分析测试中心;
XPS; ToFSIMS; 表面分析;
机译:飞行时间二次离子质谱(ToFSIMS)
机译:通过基质辅助激光解吸电离,飞行时间二次离子质谱,兆电子伏特二次质谱,气相色谱/质谱,X射线光电子能谱和衰减全反射傅立叶变换红外光谱对潜在指纹进行化学表征成像:比较
机译:X射线光电子能谱和飞行时间二次离子质谱研究了离子液体中锂嵌入薄膜V2O5的增强机理
机译:使用X射线光电子能谱和飞行时间二次离子质谱法建立人工晶状体表面的生物相容性
机译:通过飞行时间二次离子质谱,基质辅助激光解吸质谱和X射线光电子能谱表征新型聚合物。
机译:通过X射线光电子能谱和飞行时间二次离子质谱分析探测白蛋白在磷酸钙上的吸附
机译:潜在指纹的化学表征,包括基质辅助激光解吸电离,飞行时间二次离子质谱,兆电子伏特二次质谱,气相色谱/质谱,X射线光电子能谱和衰减全反射傅里叶变换红外光谱成像:比较
机译:利用纳米采样低温切片和飞行时间二次离子质谱进行比较成品纤维分析的方法开发和验证。
机译:飞行时间二次离子质谱联用卤标记法分析载体的方法
机译:质谱联用芯片,飞行质谱仪和质谱联用系统中的激光解吸电离时间
机译:时标二次离子质谱法飞行时间型二次离子质谱法分析核酸杂交产物
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