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高电压下设备介质损耗试验分析

         

摘要

重点是对电气设备中的110kV高压套管在高电压下进行介损试验研究.通过这些高压试验获取试验数据,并在普通电压下该设备进行试验时所产生的介损数据进行比较.简单分析了在高电压下电气设备内部的绝缘状态的变化情况,窥探、推测电气设备在高电压下运行状态时,其内部的绝缘状态变化,从而达到进一步提高电气设备内部绝缘缺陷判断准确率,避免发生电气设备内部由于绝缘状态发生变化而导致设备故障.

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