摩托罗拉半导体产品部推出测试新技术

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摩托罗拉半导体产品部,Tokyo Electron Limited(TEL)及W.L.Gore and Accociates,Inc近期宣布推出一项崭新的技术,将可在集成电路产品还在晶圆型态时进行老化(burn-In)测试。通过产品测试过程的简化及整合,这项技术可节省高达15％的整体生产成本,而生产时间则可节省达25％。

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来源
《世界电子元器件》 |1998年第10期|63|共1页
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作者单位

无;

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正文语种 CHI
中图分类测量和检验;
关键词
半导体产品; 测试; 制造工艺;

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