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减小SoC系统测试功耗的方法

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cqvip:系统功耗主要取决于系统电源电压、负载电容及节点电平的翻转概率。前两种方法对减少SOC测试功耗的作用非常有限,而通过改变扫描寄存器的结构,即采用扫描阵列结构可以极大的降低SOC测试功耗。

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来源
《世界电子元器件》 |2005年第2期|64-66|共3页
作者
吴刚; 王立志;
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作者单位

空军工程大学;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
功耗; SoC测试; SoC系统; 电平; 阵列结构; 电源电压; 电容; 寄存器; 扫描; 翻转;

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