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标准加入ICP-OES法测定硅胶制品中可迁移有机锡

         

摘要

采用标准加入法利用ICP-OES测定硅胶制品中可迁移有机锡,选择了Sn 189.927 nm和Sn 283.998 nm两条谱线作为检测线.研究表明:此法具有方便、准确、快速等特点,能满足分析测试的要求.

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