铁电存储器的故障模型和March C-1T1C测试

魏蓬博

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铁电存储器的故障模型和March C-1T1C测试

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铁电存储器读写时间短、功耗低、可重复擦除性好,因此,在航天航空、军事和公共交通等领域得到了越来越广泛的应用。一个晶体管和一个电容(1T1C)单元结构是常见的铁电存储器存储单元。本文对1T1C铁电存储阵列提出了几种基于电气缺陷的故障模型,包括晶体管常开、常关、开路和桥接故障。与现有的存储器故障相比,发现了两个新的故障,即写入故障(WDF)和动态写入故障(dWDF)。此外,还提出了一种改进的March C-1T1C测试,可以有效覆盖现有的故障和新发现的故障。

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来源
《河南科技：上半月》 |2020年第28期|5-8|共4页
作者
魏蓬博;
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作者单位

西昌学院机械与电气工程学院;

四川西昌615013;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类存贮器;
关键词
铁电存储器; 存储故障; March C测试; Hspice仿真;

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