中国散裂中子源RCS注入区H0CT测量系统研制

邱瑞阳; 黄蔚玲; 曾磊; 徐智虹; 李芳; 孟鸣; 杨涛; 王安鑫; 刘孟宇; 孙纪磊; 徐韬光

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中国散裂中子源的强流质子加速器采用剥离注入的方式,碳膜将H-剥离两个电子后变成质子,多圈涂抹注入到快循环同步环加速中,并加速至1.6 GeV。为了精确测量剥离膜的剥离效率并研究不同厚度剥离膜的使用寿命,在I-Dump束线上新研发并安装了一套束流流强探测器(H0CT),用于测量未完全剥离的H-和H0(H-被剥离一个电子)粒子。为了测量μA级束流,H0CT弱流强测量系统的研制考虑了外部干扰,配合探头、线缆及电子学低噪声的抗干扰设计,将环境噪声及干扰的影响降至最低,提高信噪比,实现了μA级脉冲电流的测量。

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来源
《强激光与粒子束》 |2023年第2期|106-111|共6页
作者
邱瑞阳; 黄蔚玲; 曾磊; 徐智虹; 李芳; 孟鸣; 杨涛; 王安鑫; 刘孟宇; 孙纪磊; 徐韬光;
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作者单位

散裂中子源科学中心;

中国科学院高能物理研究所;

中国科学院大学;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类加速器参数的测量;
关键词
CSNS; H0CT; 脉冲流强测量; μA级;

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