电子辐照聚酰亚胺薄膜力学性能演化机理研究

沈自才; 佟欣; 武博涵

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电子辐照聚酰亚胺薄膜力学性能演化机理研究

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利用空间综合辐照试验系统和X射线光电子能谱分析(XPS)、热重等分析测试对空间电子辐射环境下聚酰亚胺薄膜力学性能演化及机理进行了研究.研究发现,聚酰亚胺薄膜的拉力、抗拉强度和断裂伸长率随着电子辐照注量的增加先增加而后指数减小.由热重分析可知,电子辐照可引起聚酰亚胺薄膜的失重温度显著降低,在以失重10％作为判据的条件下,其失重温度由595℃下降为583℃.由XPS分析可知,电子辐照诱发聚酰亚胺薄膜化学价键的断裂和交联,在电子辐照初期,C—N键的断裂及引发的交联是导致力学性能增加的主要原因,而随着辐照注量的增加,C=O双键、—N(CO)键的断裂、新的C—N键的形成以及N元素的析出是导致聚酰亚胺薄膜力学性能降低的主要原因.

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来源
《强激光与粒子束》 |2016年第5期|193-198|共6页
作者
沈自才; 佟欣; 武博涵;
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作者单位

北京卫星环境工程研究所,北京100094;

北京卫星环境工程研究所,北京100094;

北京卫星环境工程研究所,北京100094;

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正文语种 chi
中图分类航空用材料;
关键词
电子辐照; 聚酰亚胺; 力学性能;

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