银吸收边附近X射线衰减系数测量

易荣清; 马陈燕; 樊启文

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银吸收边附近X射线衰减系数测量

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在北京同步辐射装置的4 BTA中能X光束线上,光源能区为2.1～6.0 kcV,能量分辨大于5000,高次谐波小于0.1％,光源强度大于1 09光子/s.通过全能区多能点的透过率精确测量Ag样品质量厚度,然后采用Ag薄膜对单能X光子的透过率进行测量,给出了Ag薄膜在吸收边(3.4～3.9 kcV)的衰减系数.建立了Ag样品吸收边附近衰减系数同步辐射测量方法.通过不确定度分析给出衰减系数测量不确定度小于1％,填补了在该区间衰减系数的空白.

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来源
《强激光与粒子束》 |2014年第7期|270-273|共4页
作者
易荣清; 马陈燕; 樊启文;
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作者单位

中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川绵阳621900;

中国科学院高能物理研究所,北京100049;

中国原子能科学研究院,北京102413;

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正文语种 chi
中图分类吸收与散射;
关键词
衰减系数; 同步辐射; 吸收边; 不确定度;

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