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基于252Cf中子源自相关分析的核事件死时间测量与修正方法

         

摘要

基于所研制的252Cf中子源频域测量系统,针对核探测系统的死时间使核事件丢失这一问题,利用自相关分析,研究了一种核探测系统死时间测量与修正的方法.试验测量结果表明:采用自相关图谱,可以直接获得高速频谱测量系统的死时间为40 ns,既方便又快捷,且测量精度高,达到了ns级,优于国外文献报道的类似核武器识别测量系统的死时间20 μs.

著录项

  • 来源
    《强激光与粒子束》 |2010年第10期|2453-2456|共4页
  • 作者单位

    重庆大学,光电工程学院,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044;

    重庆大学,光电工程学院,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044;

    重庆大学,光电工程学院,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044;

    重庆大学,光电工程学院,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044;

    重庆大学,光电工程学院,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044;

    重庆大学,光电工程学院,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 信息处理(信息加工);
  • 关键词

    核辐射探测; 死时间; 自相关; 修正; 中子源;

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