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双通道凸面反射式弯晶谱仪的研制及应用

         

摘要

为满足惯性约束聚变研究需要工作距离长、测谱范围宽的X射线诊断设备的独特要求,基于凸面反射几何原理研制了一台双通道弯晶谱仪.谱仪利用Si(111)及Qz(10-10)两种弯晶衍射X射线,并通过X射线CCD成功获得谱线图像,测谱范围从0.30 nm到0.65 nm.在激光装置原型诊断实验上得到应用.数据分析的结果证明实测谱线图像与理论模拟基本吻合.

著录项

  • 来源
    《强激光与粒子束》 |2008年第4期|612-616|共5页
  • 作者单位

    四川大学,原子与分子物理研究所,成都,610065;

    中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900;

    四川大学,原子与分子物理研究所,成都,610065;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 辐射与测量;
  • 关键词

    激光等离子体; 弯晶谱仪; X射线诊断; CsI; 金M带;

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