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靶材料杂质影响新谱线产生的实验验证

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摘要

为了验证氢气放电源打靶产生的新谱线不是靶杂质的特征谱线,完成了5项检验实验.其中屏蔽实验和强电子辐照靶的实验证实了新谱线不是来自放电室中的杂质形成的;靶的打磨实验表明靶表面的污染杂质也不能产生新谱线,形成共振峰的实验和新谱线强度随放电电压变化规律的实验结果都证明靶的总杂质不影响新谱线的测量.

著录项

来源
《强激光与粒子束》 |2008年第6期|961-964|共4页
作者
王大伦; 秦建国; 赖财锋;
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作者单位

中国工程物理研究院,核物理与化学研究所,四川,绵阳,621900;

中国工程物理研究院,核物理与化学研究所,四川,绵阳,621900;

中国工程物理研究院,核物理与化学研究所,四川,绵阳,621900;

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正文语种 chi
中图分类基本物理过程;
关键词
靶材料; 杂质; 特征谱线; 氢气放电;

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