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熊胜明; 张云洞;
无;
机译:光学常数的测定,包括光学厚的纳米结构Ti膜的表面特性:通过椭圆偏振光谱分析
机译:用分光光度法和椭圆偏振光度法测定ZnTe和ZnS薄膜的光学常数和膜厚
机译:实现双面膜厚测量的膜厚计的特性和应用效果<光学干涉型膜厚计Optical NanoGauge C12562-01>
机译:膜厚对智能车窗涂膜用氧化钒薄膜电学和光学性能的影响
机译:使用PVD两步氮化钛阻挡层工艺的优势,以及由于钨膜的不均匀性,钨膜沉积产生的残留副产物对工艺集成的影响。
机译:偏振度(均匀性)和去极化指数:光学相干断层扫描的明确去极化对比
机译:椭圆偏振光谱法研究基质对厚聚合物光学性能的影响
机译:基于膜的主镜与衍射光学涂层对像差传感和补偿。
机译:光学膜,用于偏振板的保护膜,光学延迟膜,偏振板,制造光学膜的方法,用于制造偏振板的方法,用于制造偏振板的保护膜的方法和显示装置
机译:光学膜厚测定方法,光学膜厚测定系统及光学膜厚测定程序其他
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