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针对玻璃基片石英试杆影响的磁光薄膜磁性参数的估算方法

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摘要

对于直接重写磁光记录薄膜的磁性测量,实际测得的磁滞回线是磁光薄膜与玻璃基片和石英试杆共同作用的结果,不能由此图直接确定基本的磁性参数.根据磁光薄膜的曲线和玻璃基片与石英试杆的曲线之间的特点,提出一种简单有效的方法快速直接确定基本的磁性参数.

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来源
《信息记录材料》 |2002年第2期|57-58|共2页
作者
李震; 罗玉芬;
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作者单位

华中科技大学电子科学与技术系,湖北武汉,430074;

华中科技大学计算机学院,湖北武汉,430074;

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正文语种 chi
中图分类磁数量测量及仪器;
关键词
磁光薄膜; 磁性参数; 玻璃基片; 石英试杆; 估算方法;

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