基于光线追迹的红外探测光学系统杂散辐射研究

张发强; 张维光; 万文博

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基于光线追迹的红外探测光学系统杂散辐射研究

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杂散辐射分析与抑制是红外探测光学系统设计的重要环节,杂散辐射增加了系统的噪声,降低了红外探测系统对目标的探测能力。首先对红外探测系统杂散辐射源进行了分析,对基于光线追迹的杂散辐射分析理论进行了介绍,并结合具体的红外探测光学系统实例,提出了反向光线追迹的思路,分析系统关键表面的特性,提出了给机械表面涂覆吸收膜的方法来抑制系统的杂散辐射,分析结果满足杂散辐射抑制的要求。

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来源
《红外与激光技术》 |2019年第9期|62-67|共6页
作者
张发强; 张维光; 万文博;
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作者单位

西安工业大学光电工程学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类红外探测、红外探测器;
关键词
红外探测光学系统; 杂散辐射; 反向光线追迹; 关键表面;

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