激光强度时空分布测量漫散射取样衰减技术研究

庞淼; 周山; 吴娟; 荣健; 高学燕; 胡晓阳

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激光强度时空分布测量漫散射取样衰减技术研究

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激光强度时空分布的测量对于诊断与评估激光系统的性能具有重要意义,减少激光入射角度影响、对大尺度激光束进行高分辨力、高占空比取样是准确测量激光强度分布的关键,结合漫散射光分布与入射光方向无关的原理,提出了激光强度时空分布测量漫散射取样衰减方法,设计了漫散射取样衰减单元,建立了光强计算模型,推导了光强计算公式并进行了验证,光强衰减倍数实验结果与理论值一致。介绍了漫散射取样衰减装置与光电管阵列或CCD成像系统的组合应用。该方法的优点:空间取样分辨力高,可达2mm左右;使用角度宽,可达±30°而不需要响应修正;占空比高,可达40%以上;衰减倍数范围大,可以通过调节衰减结构参数实现任意需要的衰减倍数。漫散射取样衰减为阵列探测器对大尺寸激光束进行取样和衰减提供了一种新方法,提高了激光强度分布测量能力和测量精度。

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来源
《红外与激光技术》 |2013年第12期|3213-3217|共5页
作者
庞淼; 周山; 吴娟; 荣健; 高学燕; 胡晓阳;
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作者单位

1. 电子科技大学物理电子学院 2. 中国工程物理研究院应用电子学研究所;

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正文语种 chi
中图分类光检测技术;
关键词
激光测量; 强度分布; 漫反射; 漫透射; 阵列探测器;

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