基于偏光干涉效应的低双折射光纤拍长测试方法(英文)

徐宏杰; 冯宇

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基于偏光干涉效应的低双折射光纤拍长测试方法(英文)

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展示了一种低双折射光纤拍长测试方法。光路由ASE光源、可调F-P滤波器、两个线偏振器、待测光纤和相位补偿器组成。应用相位检测方法降低环境因素引入的误差,使用相位补偿器保证测试系统工作点位于光强对相位变化敏感处。搭建测试系统并进行了实际测量,系统检测可重复性良好。该方法对实验设备要求不高,对于待测光纤的长度没有限制,可测拍长范围达到20 m,测量精度达1%。

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来源
《红外与激光技术》 |2014年第12期|4066-4071|共6页
作者
徐宏杰; 冯宇;
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作者单位

北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类光纤元件;
关键词
拍长; 低双折射光纤; 相位检测;

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