SiO2薄膜光学常数物理模型（英文）

刘华松; 杨霄; 刘丹丹; 王利栓; 姜承慧; 姜玉刚; 季一勤; 张锋; 陈德应

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SiO2薄膜光学常数物理模型（英文）

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SiO2薄膜是光学薄膜领域内常用的重要低折射率材料之一。在文中研究中,通过测量薄膜的椭偏参数,使用非线性最小二乘法反演计算获得薄膜的光学常数。采用离子束溅射和电子束蒸发两种方法制备了SiO2薄膜,在拟合过程中,基于L8（2~2）正交表设计了8组反演计算实验,以评价函数MSE为考核指标。实验结果表明:对IBS SiO2薄膜拟合MSE函数影响最大的为界面层模型,对EB SiO2薄膜拟合MSE函数影响最大的为Pore模型。同时确定了不同物理模型对拟合MSE函数的影响大小和反演计算过程模型选择的次序,按照确定的模型选择次序拟合,两种薄膜反演计算的MSE函数相对初始MSE可下降35%和38%,表明拟合过程模型选择合理物理意义明确。文中提供了一种判断薄膜物理模型中各因素对于薄膜光学常数分析作用大小的途径,对于薄膜光学常数分析具有指导意义。

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来源
《红外与激光技术》 |2017年第9期|294-299|共6页
作者
刘华松; 杨霄; 刘丹丹; 王利栓; 姜承慧; 姜玉刚; 季一勤; 张锋; 陈德应;
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作者单位

1. 天津津航技术物理研究所天津市薄膜光学重点实验室 2. 哈尔滨工业大学光电子技术研究所可调谐激光技术国防科技重点实验室;

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正文语种 chi
中图分类 O484.41;
关键词
SiO2薄膜; 光学常数; 界面层; 折射率梯度; 孔隙; 表面层;

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