热像仪对QFN封装表面发射率环境透射率的标定

元月; 宇慧平; 秦飞; 安彤; 陈沛

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热像仪对QFN封装表面发射率环境透射率的标定

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使用红外热像仪对未切割分离的QFN封装在40~200℃进行了塑封料面、铜面和"缝"表面发射率的标定,并分别利用上述三面对实验环境的空气透射率进行了标定。结果表明:直接计算法和直接调节法可以很好地应用于塑封料发射率标定,直接计算法可以应用在"缝"处、铜面发射率标定。塑封料发射率标定结果在0.97左右;"缝"处发射率标定值随着温度升高由0.17~0.35呈线性递增趋势变化;铜面发射率标定值随温度升高出现先稳定后增大趋势。塑封料面、铜及"缝"处对空气透射率标定值在100%左右,上下波动不超过2%。该实验结果可为红外热像仪测定QFN的使用温度及切割分离时的温度提供相应参数。

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来源
《红外与激光技术》 |2017年第9期|216-220|共5页
作者
元月; 宇慧平; 秦飞; 安彤; 陈沛;
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作者单位

北京工业大学机械工程与应用电子技术学院先进电子封装技术与可靠性试验室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类红外技术的应用;
关键词
表面发射率; 空气透射率; QFN封装;

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