光机扫描红外成像系统的串扫、并扫体制比较

苏启顺

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光机扫描红外成像系统的串扫、并扫体制比较

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扫描体制对光机扫描型红外成像系统的性能和品质起着重要的作用。本文从ｌ／ｆ噪声、冷屏效果。多元探测器非均匀性对串扫、并扫两种体制的系统灵敏度影响作了分析、计算；从系统通带和探测器的缺陷对两种体制系统的成像质量的影响作了定性的分析；还对两种体制的相关技术、成本和可生产性等方面作了扼要的比较。从两种体制的分析、计算、比较中可以看出：串扫体制在系统灵敏度、成像质量以及相关技术、成本和可生产性等方面优于并扫系统。因此在设计光机扫描型红外成像系统时，应把扫描体制作为重要的因素加以考虑。作为产品的规划则更应重视扫描体制的选择。

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来源
《红外与激光工程》 |1996年第2期||共页
作者
苏启顺;
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作者单位

航天工业总公司二院二十五所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TN216.02;
关键词
红外成像; 红外成像扫描器; 红外成像系统;

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