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多功能半导体光电性质测试电路的设计

         

摘要

设计了一个多功能半导体光电性质测试电路.配合红外光谱仪,该电路能完成相应波段的光电流谱测试.设计还加入了交流信号发生器功能,可用于半导体弱电场调制反射光谱测试,具有很高的应用价值.该电路在为半导体样品提供低噪声、高稳定性的电学测试环境的同时,也具备友好的人机交互接口,可实时地对测试条件进行控制和监视.文章分析介绍了电路系统中各个模块的硬件结构,并对设计中应用的两个主要芯片及其与单片机的接口电路进行了详细描述.

著录项

  • 来源
    《红外》 |2007年第8期|11-15|共5页
  • 作者单位

    中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;

    中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;

    中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;

    中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;

    中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;

    中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;

    中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;

    华东师范大学ECNU-SITP联合实验室,上海,200062;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TN98;
  • 关键词

    半导体; 光电流谱; A/D转换; 单片机; DDS;

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