利用伪随机斩波技术的微弱MEMS信号检测电路

著录项

• 来源
  《仪表技术与传感器》 |2014年第2期|87-89|共3页
• 作者

  何鑫; 王玮冰; 祖秋艳; 宋冬雪; 孙业超;

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• 作者单位

  中国科学院微电子研究所,中国科学院微电子器件与集成技术重点实验室,北京100029;

  江苏物联网研究发展中心,江苏无锡214135;

  中国科学院微电子研究所,中国科学院微电子器件与集成技术重点实验室,北京100029;

  江苏物联网研究发展中心,江苏无锡214135;

  中国科学院微电子研究所,中国科学院微电子器件与集成技术重点实验室,北京100029;

  江苏物联网研究发展中心,江苏无锡214135;

  江苏物联网研究发展中心,江苏无锡214135;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 专用集成电路;
• 关键词

  斩波放大; 伪随机频率; 残余失调; MEMS;