STS2106A数字集成电路测试系统的开发及应用

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• 来源
  《集成电路通讯》 |2009年第1期|52-56|共5页
• 作者

  余向阳; 陈远金;

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• 作者单位

  中国兵器工业第214研究所,蚌埠233042;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 CHI
• 中图分类 测试和检验;
• 关键词

  数字集成电路; 测试系统; 适配器; 参数编程;