Considering the Fault Dependency Concept with Debugging Time Lag in Software Reliability Growth Modeling Using a Power Function of Testing Time

V.B.Singh; Kalpana Yadav; Reecha Kapur; V.S.S.Yadavalli

摘要

自从 1970 年代初，巨大的生长在软件可靠性生长建模的研究被看见了。一般来说，软件可靠性生长模型(SRGM ) 对在软件开发测试的迟了的阶段适用，他们能提供怎么改进软件产品的可靠性的有用信息。很多 SRGM 在文学被建议了代表时间依赖者差错鉴定 / 移动现象；仍然新的模型正在被建议那能适合很多可靠性生长曲线。经常，数学模型什么时候被开发，被假定检测差错立即被改正。因为移开一个检测差错的时间取决于人员的差错，技巧和经验的复杂性，这个假设不能在实践是现实主义的，调试的队，的尺寸这种技术等等。因此，检测差错不必立即被移开，并且它可以落后由一个延期效果因素的差错察觉过程。在这篇论文，我们首先考察不同软件可靠性生长模型怎么被开发了，在差错察觉过程剩余差错内容的数字依赖于不仅而且在严峻的时间的地方，并且看这些模型怎么能用一个延期效果因素作为推迟的差错察觉模型由是 reinterpreted 。基于严峻的时间概念的力量功能，我们建议在软件假定差错的二种类型的存在的四新 SRGM：领先、依赖的差错。领先的差错是能在被观察的失败之上被移开的那些。然而，依赖差错被领先的差错掩盖并且在相应的带差错与一调试时间被移开以后，能仅仅被移开落后。这些模型在真实软件错误数据上被测试了显示出它合适的、预兆的有效性和适用性的美德。关键词非同类的泊松过程 - 差错相关性 - 领先的差错 - 依赖差错 - 延期效果 V. B。Singh 从设计学院的 M.M.M 收到了 M.C.A 度， Gorakhpur， U.P，印度。他是在在艺术和商业的德里学院的计算机科学系的一个讲师，德里的大学，德里，印度。一会儿，他是在德里的大学的一个博士候选人，德里。他出版了九篇研究论文。他的研究兴趣包括软件测试并且软件可靠性设计。Kalpana Yadav 收到了 M.Tech。在来自大师 Jambheshwar 大学的计算机科学和工程， Hissar，印度。她是在在因迪拉·甘地工学院的计算机科学系的一个讲师，大师 Gobind Singh Indraprastha 大学，德里，印度。一会儿，她是在 Jiwaji 大学的一个博士候选人， Gwalior。她出版了九篇研究论文。她的研究兴趣包括软件测试并且软件可靠性设计。Reecha Kapur 是在数学和计算机申请的系的一个研究学者， Bundelkhand 大学， Jhansi，印度。她从 Bundelkhand 大学在数学做了波斯特毕业， Jhansi，印度。她出版了三篇研究论文。她的研究兴趣在软件可靠性包括有瑕疵的调试模型，它软件测试上的效果花费。V.S. S。Yadavalli 在 1982 从印度工学院收到了他的博士学位。他是一个教授工业与在比勒陀利亚的大学的系统工程。他在可靠性理论上出版了超过 90 篇研究论文，排队理论，库存理论，软件可靠性，人力计划，在 ISI 当模特儿的 econometric 在可靠性，微电子学和可靠性上相信了象 IEEE 交易一样的杂志，随机的分析和应用程序，系统科学的国际杂志，运作的研究，应用数学与计算的亚太杂志，南非的计算机杂志，工业工程的南非的杂志， Interna 他在 Opertional 研究的亚太杂志的编委，管理动力学，工业工程的南非的杂志。他最近在马奎斯被列出了鈥 ?(第 23 编辑) 。他的研究兴趣包括可靠性理论，排队理论，库存理论，软件可靠性，计划的人力，并且 econometric 建模。

Considering the Fault Dependency Concept with Debugging Time Lag in Software Reliability Growth Modeling Using a Power Function of Testing Time

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