首页> 中文期刊> 《应用光学》 >一种从粗到精逐步细化的变尺度光栅投影测量方法

一种从粗到精逐步细化的变尺度光栅投影测量方法

         

摘要

传统的光栅投影法依靠相移法进行测量,对绝对相位的计算需要应用解包裹算法完成.由于解包裹算法要求空间相位具有连续性,因此不适合高度变化显著的物体的测量.针对该问题,提出一种多尺度条纹投影测量的方法,直接获取高密度条纹投影的绝对相位.通过对高密度64周期条纹扫描投影测量相位的二次拟合曲线的实验处理,在绝对相位[-201,201]的变化范围内,拟合标准差达到0.096 63 rad的精度.

著录项

  • 来源
    《应用光学》 |2015年第5期|774-777|共4页
  • 作者

    王选择; 吴雅君; 何涛;

  • 作者单位

    湖北工业大学机械工程学院;

    湖北武汉430068;

    湖北工业大学湖北省现代制造质量工程重点实验室;

    湖北武汉430068;

    湖北工业大学机械工程学院;

    湖北武汉430068;

    湖北工业大学机械工程学院;

    湖北武汉430068;

    湖北工业大学湖北省现代制造质量工程重点实验室;

    湖北武汉430068;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 通信理论;数据处理;
  • 关键词

    应用光学; 相位处理; 逐级估算; 变尺度;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号