基于WLI原理K9基片的亚表层损伤检测

著录项

• 来源
  《应用光学》 |2007年第6期|773-777|共5页
• 作者

  庞云霞; 杭凌侠; 陈智利; 马保吉;

  展开▼
• 作者单位

  西安工业大学;

  光电工程学院;

  陕西;

  西安;

  710032;

  西安工业大学;

  光电工程学院;

  陕西;

  西安;

  710032;

  西安工业大学;

  光电工程学院;

  陕西;

  西安;

  710032;

  西安工业大学;

  机电工程学院;

  陕西;

  西安;

  710032;

  展开▼
• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 材料和工作物质;
• 关键词

  K9基片; 亚表层损伤; 非破坏性检测; 白光干涉原理;