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微通道板增益疲劳机理研究

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摘要

微通道板的增益疲劳是微通道板的主要问题之一，本文分析了微通道板的表面结构模型，同通道板活性表面上碱金属的逸出和碳的增加是导致微通道板的增益疲劳的主要原因，另外，探讨碱金属逸出的机理和碳污染的来源，介绍延长微通道板工作寿命的有效方法。

著录项

来源
《应用光学》 |1996年第4期|25-28|共4页
作者
阎金良; 孟淑英;
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作者单位

北京理工大学;

西安应用光学研究所;

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正文语种 chi
中图分类结构;
关键词
微通道板; 增益; 寿命;

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