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红外光学材料折射率均匀性的测量不确定度评定

         

摘要

基于多样品多型号仪器的测试信息及其GUM和MCM方法,讨论了四步干涉法测量红外光学材料折射率均匀性的测量范围及其测量不确定度评定。红外干涉测量的绝对灵敏度和准确度虽不及可见激光干涉仪,但采用了四步干涉测量的方法,消除了干涉仪的固有系统误差,有利于实现对红外光学材料折射率均匀性的高准确度测量。实际测试表明,该测量范围覆盖1×10-5~5×10-3,测量相对标准不确定度为2×10-1~2×10-2。%Based on the test information from multi‐sample and multi‐mode instrument ,as well as the guide to expression of uncertainty in measurement (GUM ) and Monte Carlo method (MCM ) ,the four‐step interferometry measurement range and uncertainty of the infrared optic materials refractive index uniformity were discussed .Although the absolute sensitivity and ac‐curacy of infrared interferometry are lower than that of visible laser interferometer ,the four‐step interferometry can eliminate the inherent systematic errors of the interferometer and can help achieve high‐accuracy measurements of infrared optical refractive index homogeneity .The practical tests show that the measurement range can reach 1 × 10-5 ~5 × 10-3 and the relative standard uncertainty can reach 2 × 10-1 ~2 × 10-2 .

著录项

  • 来源
    《应用光学》 |2015年第1期|82-87|共6页
  • 作者单位

    北京理工大学光电学院;

    精密光电测试仪器及技术北京市重点实验室;

    北京100081;

    中国兵器工业标准化研究所;

    北京;

    100089;

    北京理工大学光电学院;

    精密光电测试仪器及技术北京市重点实验室;

    北京100081;

    西安应用光学研究所;

    西安;

    710065;

    北京理工大学光电学院;

    精密光电测试仪器及技术北京市重点实验室;

    北京100081;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 光检测技术;
  • 关键词

    GUM; MCM; 四步干涉法; 红外光学材料均匀性;

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