双光路法测量化合物及合金熔体平衡蒸气分压

周书铨; 桑文斌; 谢敏; 吴汶海

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双光路法测量化合物及合金熔体平衡蒸气分压

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cqvip:由(Hg_(1-(?))Cd_x)_y(Te_(1-y))在不同温度下的蒸气分压,可以求得P～T～x的关系,从而指导长晶工艺和液相外延,提高晶体质量.因此,平衡蒸气分压的测定,在理论上和经济上均有重要意义.但是,人们不能用压力计来测量高温、高压下气体的压力,特别是有强烈腐蚀性的气体.压力计将被腐蚀而不能正常工作.再说,压力计也只能测量化合物蒸气压的总压力,而不能测量各组分的分压.因此,测量高温、高压下化合物或合金熔体蒸气分压只能用间接的方法,这给技术上带来一定困难.目前有高压迥流法、露点法及光谱吸收法等.文献[4]报道了单光路法测定CdTe熔体平衡蒸气分压.

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来源
《应用科学学报》 |1989年第3期|271-274|共4页
作者
周书铨; 桑文斌; 谢敏; 吴汶海;
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作者单位

不详;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类高压和减压反应过程;
关键词
双光路法; 化合物; 合金; 压蒸气分;

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