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张金涛; 彭亦童; 高冲; 张铁犁; 缪寅宵; 葛萌; 苗润; 李恩;
电子科技大学 成都611731;
北京航天计量测试技术研究所 北京100076;
法兰材料; 介电系数; 反射系数;
机译:介电测量设定宽带建模的两个法兰同轴探针之间的高阶模式电磁分析
机译:带法兰的开放式同轴探针-全波分析法测定材料的电磁性能
机译:同轴探针测量同轴探针 - 了解对数周期天线的电流分布测量
机译:法兰同轴材料探针:表征外部CM能量
机译:垫片螺栓连接法兰的密封性能:法兰表面特性的影响和模糊逻辑的应用。
机译:开放式同轴探针与组织的接触压力对介电测量的影响
机译:使用双端口法兰同轴探针和薄膜转移矩阵法的透明导电薄膜的电磁特征
机译:用1 ma电流脉冲模拟同轴测试夹具中等离子体破坏的影响
机译:该设备,特别是用于非破坏性材料测试的测试头夹具,具有作为发射器和接收器提供的测试探针,其中测试探针相对于纵轴同轴设置
机译:半导体器件测试设备,使用该测试设备的测试方法以及用于该测试设备的同轴探针针头单元
机译:高频半导体晶片测试探针接触器单元具有通过匹配网络和共面波导连接到探针尖端的同轴连接器
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