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石英晶片的电参数模型分析与实验验证

         

摘要

研制晶片自动分选机的主要难点是晶片自动分选机测试系统的研制.其测量特点决定了考虑测量气隙时晶片的电参数模型不同于理想的电参数模型.建立了有气隙晶片的理论电参数模型,并讨论了气隙对频率测量的影响.有测量气隙时晶片的谐振频率的大小和起振难易主要取决于测量气隙的大小.根据有气隙测量时晶片谐振频率的测量原理进行了晶片自动分选机频率测试系统的设计.最后对建立的电参数模型进行了实验验证.

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