结温可控的晶体管稳态工作寿命试验方法研究

李霁红; 贾颖; 康锐; 张德骏

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结温可控的晶体管稳态工作寿命试验方法研究

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在分析了现行标准中晶体管稳态工作寿命试验方法存在问题的基础上,认为在现行的稳态工作寿命试验中没有对晶体管的结温实施测量和控制,是导致试验结果不准确的重要原因.旨在提高晶体管稳态工作寿命试验方法的可信度,提出了一种在试验过程中实时测量并严格控制晶体管结温在最高允许结温附近的稳态工作寿命试验方法.以3DD820,3DD15D (F2金属封装)双极晶体管为实验对象,对结温可控的晶体管稳态工作寿命试验方法进行了验证.模拟试验数据分析结果表明,该试验方法可以有效地提高晶体管稳态工作寿命试验方法的可信度.

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来源
《北京航空航天大学学报》 |2005年第6期|696-699|共4页
作者
李霁红; 贾颖; 康锐; 张德骏;
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作者单位

北京航空航天大学,工程系统工程系,北京,100083;

北京航空航天大学,工程系统工程系,北京,100083;

北京航空航天大学,工程系统工程系,北京,100083;

山东大学,物理与微电子学院,济南,250100;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类晶体管：按工艺分;
关键词
晶体管; 寿命试验; 可信度;

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