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批量准则下的控制图在完全检验中的最优设计

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摘要

为了帮助企业提高产品质量,减少生产成本,对于对产品采用完全检验的企业,提出了在批量准则下,建立生产过程的期望质量损失成本最优模型,并进行了大量的数值实验,结果表明该准则下的期望质量损失成本总体上优于其他准则.

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来源
《北京工业大学学报》 |2009年第5期|690-696|共7页
作者
谢琍;
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作者单位

北京工业大学,应用数理学院,北京,100124;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类质量控制;
关键词
批量准则; 预警线; 完全检验; 最优设计;

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