1064 nm连续激光辐照硅基PIN探测器输出电流恢复时间的实验研究

梁超; 魏智; 金光勇; 王頔; 麻健雄

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光电探测器是激光及其应用系统中非常重要的一部分,当硅基PIN光电探测器受到激光辐照时,光电探测器的光电性能下降,其造成的损伤效果可以采用光电探测器的电学性能表征。对此,开展1064 nm连续激光辐照硅基PIN探测器输出电流恢复时间的实验研究,搭建相应的实验系统,选择合适的激光参数辐照硅基PIN光电探测器,监测其输出电流恢复时间的变化规律,得出输出电流恢复时间的影响机理。结果表明:随着激光功率密度的增加,硅基PIN光电探测器输出电流的恢复时间也随之增加。外置偏压对输出电流的恢复时间没有影响。

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来源
《长春理工大学学报（自然科学版）》 |2022年第4期|7-11|共5页
作者
梁超; 魏智; 金光勇; 王頔; 麻健雄;
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作者单位

长春理工大学物理学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类激光的应用;
关键词
1064 nm连续激光; PIN光电探测器; 输出电流; 恢复时间;

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